Knihy od autora Laung-Terng Wang

Zobrazeno 1 – 3 z 3 výsledků

1. 

   VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

   Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen | MORGAN KAUFMANN PUBL INC, 2006

   
   

   50 % šance - Prohledáme celý svět

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   2823 Kč

   Koupit
2. 

   VLSI Test Principles and Architectures

   Laung-Terng Wang | Elsevier Science & Technology, 2006

   
   

   50 % šance - Prohledáme celý svět

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   2101 Kč

   Koupit
3. 

   System-on-Chip Test Architectures

   Laung-Terng Wang | Elsevier Science & Technology, 2008

   
   

   50 % šance - Prohledáme celý svět

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   2000 Kč

   Koupit

Orientační termín doručení vidíte přímo v detailu knihy. Zjistěte více